AFM-Mikroskop AA2000

digitalRTMLabor

Auflösung auf atomarer Ebene Große Probengröße DSP (Digitale Signalverarbeitung) für hohe Leistung Eingebettetes Echtzeit-Betriebssystem Schnelle Ethernet-Verbindung mit dem Computer Multifunktionale Rasterkraftmikroskop (AFM) Lateralkraftmikroskop (LFM) Kraft-Analyse: I-V-Kurve, I-Z-Kurve, Kraftkurve Online-Echtzeit-3D-Bild für bessere Beobachtung Mehrkanalige Signale für mehr Probendetails Trace-Retrace-Scan, Back-Forward-Scan Mehrfach-Analyse: Granularität und Rauheit Laden von Daten für weitere Analysen Einfacher Betrieb Schnelles automatisches Einrasten der Spitze Einfacher Wechsel des Spitzenhalters, für einfachen Wechsel zwischen STM und AFM Vollständig digitale Steuerung, automatische Systemstatuserkennung Software-basierte Probenbewegung Nano-Film-Funktion: Kontinuierliche Datenerfassung, -speicherung und -wiedergabe Spezifikationen Technische Parameter X-Y-Abtastbereich: ~ 10 Mikrometer Z-Abstand: ~ 2 Mikrometer Bildpixel: 128 × 128, 256 × 256, 512 × 512, 1024 × 1024 Scan-Winkel: 0 ~ 360° Abtastrate: 0.1 ~ 100 Hz Elektronik CPU: 32-Bit-Digitaler Signalprozessor (DSP) mit 600MHz von Texas Instruments Schneller 16-Bit-DAC Schneller 16-Bit-ADC Hochspannung: 5-Kanal Kommunikationsschnittstelle: 10M/100M Fast Ethernet Mechanik Größe der Probe: Bis zu 45 mm Durchmesser, bis zu 15 mm bei Verwendung eines AA2000/AA3000 und bis zu 30 mm bei Verwendung des AA5000; Einrastung: Automatischer Eingriff mit einem Verfahrweg von 30 mm und einer Präzision von 50 nm Modularisiertes Design für bequeme Wartung und zukünftige Upgrades Software Online-Steuerungssoftware und Offline-Bildverarbeitungssoftware