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Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,6, 0,7 nm
... Mittelspalten-Detektor (IMD) Außensäulen-Kristalltyp BSED (OCD) Halbleiter-BSED (PD-BSED) Kathodolumineszenz-Detektor (CLD) STEM-Detektor Probentisch Tischsteuerung - 5-Achsen-Motorantrieb Beweglicher Bereich - x ...
Vergrößerung: 20 unit - 8.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,1, 0,08 nm
... Hitachis einzigartiges, aberrationskorrigiertes 200-kV-TEM/STEM: die perfekte Harmonie von Bildauflösung und analytischer Leistung 0.die räumliche Auflösung von 078 nm im STEM wird zusammen mit einer ...
Vergrößerung: 600.000, 800.000, 1.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,14, 0,19, 0,2 nm
... Beobachtung bei geringer Vergrößerung, einen hohen Weitwinkelkontrast, eine hohe Auflösung und vieles mehr - alles in einem Mikroskop. Normaler Raumlichtbetrieb und automatisierte Funktionen ermöglichen es sowohl Anfängern ...
... kompaktes Tischgerät, das hochauflösende Bildgebung mit dem geringen Platzbedarf eines optischen Mikroskops kombiniert. Es besteht aus vier separaten Teilen: dem Mikroskop, der Elektronikeinheit, dem ...
Räumliche Auflösung: 0,05 nm - 0,17 nm
... Korrektor-Tuning-Einheit „Cosmo“ bis zur 3. Ordnung inkl. 4-fachem Astigmatismus automatisch korrigiert werden. So erreicht System eine STEM-Auflösung von weniger als 53 pm. Je nach Anwendung kann das GRAND ARM 2 für ...
Jeol
Räumliche Auflösung: 0,1, 0,07, 0,16, 0,11, 0,25 nm
... präzise Optimierung des Korrektors automatisch durchgeführt werden und ermöglicht somit einen hohen Probendurchsatz. Das eABF STEM-Detektionssystem des „NEOARM“ erzielt bei niedrigen Beschleunigungsspannungen durch einen ...
Jeol
Räumliche Auflösung: 0,23, 0,19, 0,16, 0,14 nm
... Kondensor-Optik ist es beim JEM-F200 nun optional möglich, den Strahl in der bildgebenden Optik zu rastern. Dadurch werden großflächige STEM-EELS-Aufnahmen ermöglicht. Pico-Antrieb Statt eines Piezo-Antriebs kommt ...
Jeol
... B. Katalysatorstrukturen, Nanoröhren, Nanopartikel und andere nanoskalige Strukturen) Hervorragende Plattform für die SEM/STEM-Metrologie im Sub-Nanometerbereich Schnelles Einrichten des Elektronenstrahls - optimale ...
TESCAN GmbH
... Elektronenstrahlpräzession und Nah-UHV Ein neuer Ansatz für die STEM-Benutzererfahrung Analytisches 4D-STEM Das vollständige Bild der Wechselwirkung zwischen Elektronenstrahl und Probe 4D-STEM ...
TESCAN GmbH
... Robustes Design mit Ganzmetallrahmen für den College- und MINT-Markt; mit doppelten Tragegriffen in 8 verschiedenen Farben zur Identifizierung im Labor; LED-Beleuchtung ist bei allen Modellen Standard ...
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