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Vergrößerung: 3.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8, 1,2, 0,4 nm
... von bis zu 0,7 sr kann für die hochauflösende Elementanalyse sowohl im REM- als auch im STEM-Modus nahe an der Probe angebracht werden. Produktmerkmale: - SEM-STEM-Kombination mit ExB-gefiltertem SEM-Signal ...
Vergrößerung: 20 unit - 8.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,08, 0,1 nm
... Das HF5000 ist ein Cs-korrigiertes S/TEM, das für In-situ-Experimente angepasst werden kann. Die Besonderheit ist der Everhart Thornley SE-Detektor, der die Oberfläche der Probe bei 60-200kV abbildet, genau wie bei einem ...
Vergrößerung: 1.000.000, 800.000, 600.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,19, 0,14, 0,2 nm
... Die HT7800-Familie unterstützt eine Vielzahl von Anwendungen, von Biowissenschaften bis hin zu Materialwissenschaften. Es ist in drei verschiedenen Polschuh-Varianten erhältlich, die alle auf unserer patentierten Objektivlinse basieren ...
... kompaktes Tischgerät, das hochauflösende Bildgebung mit dem geringen Platzbedarf eines optischen Mikroskops kombiniert. Es besteht aus vier separaten Teilen: dem Mikroskop, der Elektronikeinheit, dem ...
Räumliche Auflösung: 0,05 nm - 0,17 nm
... Korrektor-Tuning-Einheit „Cosmo“ bis zur 3. Ordnung inkl. 4-fachem Astigmatismus automatisch korrigiert werden. So erreicht System eine STEM-Auflösung von weniger als 53 pm. Je nach Anwendung kann das GRAND ARM 2 für ...
Jeol
Räumliche Auflösung: 0,1, 0,07, 0,16, 0,11, 0,25 nm
... präzise Optimierung des Korrektors automatisch durchgeführt werden und ermöglicht somit einen hohen Probendurchsatz. Das eABF STEM-Detektionssystem des „NEOARM“ erzielt bei niedrigen Beschleunigungsspannungen durch einen ...
Jeol
Räumliche Auflösung: 0,23, 0,19, 0,16, 0,14 nm
... Kondensor-Optik ist es beim JEM-F200 nun optional möglich, den Strahl in der bildgebenden Optik zu rastern. Dadurch werden großflächige STEM-EELS-Aufnahmen ermöglicht. Pico-Antrieb Statt eines Piezo-Antriebs kommt ...
Jeol
... B. Katalysatorstrukturen, Nanoröhren, Nanopartikel und andere nanoskalige Strukturen) Hervorragende Plattform für die SEM/STEM-Metrologie im Sub-Nanometerbereich Schnelles Einrichten des Elektronenstrahls - optimale ...
TESCAN GmbH
... Elektronenstrahlpräzession und Nah-UHV Ein neuer Ansatz für die STEM-Benutzererfahrung Analytisches 4D-STEM Das vollständige Bild der Wechselwirkung zwischen Elektronenstrahl und Probe 4D-STEM ...
TESCAN GmbH
... Robustes Design mit Ganzmetallrahmen für den College- und MINT-Markt; mit doppelten Tragegriffen in 8 verschiedenen Farben zur Identifizierung im Labor; LED-Beleuchtung ist bei allen Modellen Standard ...
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