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Räumliche Auflösung: 2,8, 60, 4, 3,5 nm
... NX2000 ist ein für Halbleiteranwendungen optimiertes FIB-SEM (Defektanalyse mit KLARF-Koordinatenimport, TEM-Lamellenextraktion, Bauelementeentwicklung). Mit 205 x 205 mm X,Y-Verfahrweg erlaubt der Probentisch sogar die vollflächige Bearbeitung ...
... Der JPK NanoWizard® V kombiniert hohe räumliche und zeitliche Auflösung mit einem großen Scanbereich, flexiblem Experimentdesign und hervorragender Integration mit modernen optischen Mikroskopsystemen. Die automatisierte Einrichtung, ...
Räumliche Auflösung: 115, 269 nm
... System N-SIM S nutzt Nikon's neuartige Beleuchtunstechnologie für die SIM-Technik. Durch die Kombination dieser Innovation mit den bekannten Objektiven von Nikon, die eine beispiellose numerische Apertur ...
Nikon Instruments
Räumliche Auflösung: 115, 269 nm
... hochauflösendes Mikroskop, das die gleiche hohe Auflösung wie die N-SIM S bietet. N-SIM E ist ein optimiertes, kostengünstiges Super-Resolution-System, das die doppelte Auflösung herkömmlicher ...
Nikon Instruments
Vergrößerung: 60, 100, 20, 40 unit
Räumliche Auflösung: 400 nm - 750 nm
... Probenvorbereitung oder Farbstoffe erforderlich sind. Hauptmerkmale Auflösung Das DeepSIM basiert auf einer robusten Multi-Spot-Gitter-SIM-Technik, die eine XY-Auflösung von 100 nm erreicht; eine 2-fache Steigerung ...
Nikon Instruments
Räumliche Auflösung: 60, 4, 2,8, 3,5 nm
... FIB-SEM-Systeme sind zu einem unverzichtbaren Werkzeug für die Charakterisierung und Analyse der neuesten Technologien und Hochleistungsmaterialien im Nanobereich geworden. Die ständig steigende Nachfrage nach ultradünnen TEM-Lamellen ...
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