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... Der innovative ZONETEM II Desktop Sample Cleaner verwendet eine UV-basierte Reinigungstechnologie zur Minimierung oder Beseitigung von Kohlenwasserstoffverunreinigungen für die elektronenmikroskopische Bildgebung. ZONE bietet eine einfach ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... Dieses Gerät dient der Vorbereitung des gewünschten Waferteils für die Analyse mit STEM, TEM usw. durch Extraktion einer Mikroprobe mit einem Ionenstrahl in der Vakuumkammer eines FIB-Systems. Merkmale FIB-Mikroprobenentnahmegerät ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... Der MC1000 Ionen-Sputter-Coater ist ein Probenvorbereitungsgerät zur Verwendung mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM). Der MC1000 ist für die Abscheidung einer dünnen Metallbeschichtung wie Platin (Pt), Gold (Au), Platin-Palladium-Legierung ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... Der ZONESEMII-Tischprobenreiniger verwendet eine UV-basierte Reinigungstechnologie, um Kohlenwasserstoffverunreinigungen für die elektronenmikroskopische Bildgebung zu minimieren oder zu beseitigen. Übersicht Die Vorbereitung, Handhabung ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... Das IM4000II unterstützt sowohl das Querschnittsfräsen als auch das Flachfräsen zur Vorbereitung von Proben je nach Zweck. Kühltemperaturregelung, Luftschutzhalterung und verschiedene Optionen ermöglichen die Vorbereitung verschiedener ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... wie z. B. bei Anwendungen in elektronischen Geräten, wurde ein revolutionäres Querschnittsfräshalterdesign für die Herstellung größerer Flächen entwickelt. Beispiel für großflächiges Querschnittsfräsen (Probe: elektronisches ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... Automatisierter EM-Färber Nach der Ultramikrotomie müssen die meisten Schnitte mit Blei- und Uranylsalzen kontrastiert werden. Beide sind nicht nur gefährlich, wenn sie nicht richtig gehandhabt werden, sondern können auch Ausfällungen ...
Boeckeler Instruments, Inc.
Boeckeler Instruments, Inc.
... in drei Stärken 6,4 mm, 8 mm oder 10 mm. Einfache Bedienung Der Leica EM KMR3 lässt sich einfach bedienen und die automatische Rückstellung auf die Ausgangskonfiguation des Brechrades und des Ritzmechanismusses ...
automatisches ProbenvorbereitungsgerätEM TIC 3X
Die aktualisierte Version des EM TIC 3X kombiniert – getreu unserem Motto ‘mit dem Anwender, für den Anwender’ – Leistung und Flexibilität in praxisrelevanter Weise. Die verdoppelte Ätzrate des neuesten EM TIC 3X lässt sich mit fünf ...
... jetzt 1.200 μm/h. Kühlsystem mit hohem Durchsatz ～automatische Kühlung und automatische Rückkehr zur Raumtemperatur～ Die Kühlung bis zur Rückkehr zur Normaltemperatur kann automatisch erfolgen. Darüber ...
Jeol
automatisches ProbenvorbereitungsgerätPOLISHER™
Das hoch-automatisierte Elektronenmikroskop CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) steht für noch schnellere, noch einfachere und noch höher auflösende Kryo-Elektronenmikroskopie. Die automatisierte Einzelpartikelanalyse (engl. “Single Particle ...
Jeol
Der JEOL Cross Section Polisher IB-19520CCP ist ein Präparationswerkzeug mit integrierter Kühlung zur Herstellung von artefaktfreien Querschnitten und zur Nachpolitur von Schliffen. Selbst empfindliche, strahlsensible Proben wie Lötmittel ...
Jeol
... Der ZONESEMII-Tischprobenreiniger verwendet eine UV-basierte Reinigungstechnologie, um Kohlenwasserstoffverunreinigungen für die elektronenmikroskopische Bildgebung zu minimieren oder zu beseitigen. Übersicht Die Vorbereitung, Handhabung ...
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