Bodenstehende Mikroskope

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optisches Mikroskop
optisches Mikroskop
SU9000II

Vergrößerung: 3.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 1,2, 0,7, 0,4, 0,8 nm

... Die Cold Field Emission-Quelle ist ideal für die hochauflösende Bildgebung bei geringer Quellengröße und Energieverteilung. Die innovative CFE-Kanonen-Technologie sorgt für das ultimative FE-SEM mit hervorragender Strahlhelligkeit und ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
SU8700

Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,6, 0,9, 0,8 nm

... Das SU8700 läutet eine neue Ära der ultrahochauflösenden Schottky-Feldemissions-Rasterelektronenmikroskope in der langjährigen Hitachi EM-Produktpalette ein. Diese revolutionäre FE-SEM-Plattform bietet vielseitige Bildgebung, hohen Sondenstrom, ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
SU7000

Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 0,8 nm

... Ein modernes FE-SEM erfordert nicht nur eine hohe Leistung, sondern auch eine Vielzahl von Funktionen wie großflächige Beobachtung, In-situ-Analyse, variabler Druck, hochauflösende Bildgebung bei niedrigen Beschleunigungsspannungen und ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
optisches Mikroskop
optisches Mikroskop
FD3600

Vergrößerung: 0,4 unit - 21,2 unit
Gewicht: 125 kg
Länge: 150 cm

... 5-stufige Vergrößerungseinstellung Fünf Objektive mit unterschiedlichem Fokussierabstand; Sehr helle 50W LED-Beleuchtung; ...

TEM-Mikroskop
TEM-Mikroskop
CRYO ARM™ 300

... der Säule ausgestattet, mit dem energiegefilterte Bilder und Energieverlustspektren aufgenommen werden können. Die mit dem Mikroskop aufgenommenen verlustfreien Bilder bieten einen hohen Kontrast bei reduzierter chromatischer ...

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Jeol
AFM-Mikroskop
AFM-Mikroskop
Icon®

... Das Dimension Icon® von Bruker bietet Forschern in Wissenschaft und Industrie im Nanobereich ein Höchstmaß an Leistung, Funktionalität und AFM-Zugänglichkeit. Es baut auf der weltweit meistgenutzten AFM-Plattform für große Proben auf ...

FIB-SEM-Mikroskop
FIB-SEM-Mikroskop
NX9000

Räumliche Auflösung: 2,1, 1,6 nm

... Das neu entwickelte FIB-SEM-System von Hitachi, die NX9000, verfügt über ein optimiertes Layout für echte hochauflösende Serienschnitte, um den neuesten Anforderungen in der 3D-Strukturanalyse und für TEM- und 3DAP-Analysen gerecht zu ...

optisches Mikroskop
optisches Mikroskop
PRIMA

Länge: 1.756 mm

... Beobachtungskopfes angebracht. Die Leuchtintensität ist flimmerfrei in ihrer Helligkeit einstellbar. Technische Daten Prima DNT Mikroskop mit integrierter LWL-Beleuchtung Apochromatischer Vergrösserungswechsler: ...

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Labomed Europe b.v.
STEM-Mikroskop
STEM-Mikroskop

... für die multimodale Charakterisierung der morphologischen, chemischen und strukturellen Eigenschaften von Funktionsmaterialien, dünnen Filmen und synthetischen Partikeln im Nanomaßstab, mit herausragender 4D-STEM-Leistung und beispielloser ...

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TESCAN GmbH
digitales Mikroskop
digitales Mikroskop
Insight - μ+

Vergrößerung: 0 unit - 10 unit
Gewicht: 100 kg
Breite: 620 mm

... Insight - μ+ Medizinisches Mikroskop, mit deutschen 6 Gelenke Arm System, und ein Grad kontrollierte Okular, das ein Mikroskop ermöglicht, frei zu bewegen und helfen, den betroffenen Bereich leicht zu ...

optisches Mikroskop
optisches Mikroskop
SCM850 series

Vergrößerung: 1,6 unit - 19 unit

... hoher Augenpunkt 12,5X Weitwinkelokular, einstellbare Dioptrien ※Stufenloser Zoom: Der Verstärkungsfaktor beträgt: 0,4 - 2,5 ※Drei-in-Eins-Strahlenteiler: 45° Extender, Pendelsystem, Strahlenteiler Optische Integration, Teilungsverhältnis ...

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SOCO Precision Instrument Co., Ltd.
optisches Mikroskop
optisches Mikroskop
C-CLEAR-1

Vergrößerung: 4, 5, 8, 13, 20 unit

... 1. Optisches System: Apochromatisches optisches System 2. Zoombereich: Getriebezoom 3. okular: 12.5x Weitwinkelokular, Diopter+6~-6D hoher Augenpunkt, geeignet für Brillenträger 4. binokulartubus: 0-180° Winkel einstellbar, f170mm 5. ...

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